信号観測の為にICのピンをロジックアナライザやオシロスコープに接続する為にIC用テストクリップは必需品です。
使用する度にその材料や加工技術に感心させられますが、精密な分デリケートでもあり、注意しても使っている内にクリップ先端が変形して使えなくなります。
一方、オシロスコープのプローブ先端にIC用テストクリップを取り付ける為の専用アダプタも市販されていましたが、直ぐにプローブから外れてしまい、高価な割には殆ど使い物になりませんでした。
そこで、壊れたテストクリップをそのまま捨てるのは”モッタイナイ”のでオシロスコープ用アダプタにリサイクルした処、製品版より遙かに使い易い物になりました。
以下はその手順です。
IC用テストクリップの一例 (写真拡大) |
|
手順@ リード線プラグ部加工 壊れたテストクリップのリード線のプラグ部の周辺絶縁壁の「一部」をニッパで切り取る。 ここで「一部」というのはプローブ接続部が被試験回路に触れても短絡させない為の絶縁を確保する為であり、充電部が全てプラグ周辺絶縁壁内に納まる様にする事がポイントです。 (写真拡大) |
|
手順A オシロスコープのプローブに接続 リード線に新しいクリップを取り付ければ完成。 切り欠いた部分をオシロスコープのプローブで把持して使用します。 プローブ接続部は充分に絶縁が確保されています。 (写真拡大) |